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1，粉末样品至少200mg（不需要提供石蜡）；
2，块体样品测试同轴法，样品尺寸精度要求很高，内径3.04，外径7mm；厚度：不限，一般统一选择（ 2±0.040 mm）；
3，块体样品测试波导法，不同范围对应不同尺寸，要求样品表面尽量平整光滑、无弯曲。样品尺寸：标准尺寸或者长宽尺寸偏大2-3mm，样品厚度：不限，微米级别-20mm都可以，对于厚度小于0.5mm的薄膜，由于较脆弱，制样不易，尽量大小要提供比标准尺寸大一些，以免出现漏磁，造成数据偏差。
标准尺寸具体如下（宽*长）：
1.13-1.73GHz：82.4*164.8 mm
1.72-2.61 GHz：54.46*108.92 mm
2.60-3.95 GHz：33.89*71.84 mm
3.94-5.99 GHz：22.0*47.25 mm
5.38-8.17 GHz：15.75*34.70 mm
8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm
12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm
18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm
26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；
4，块体样品测试弓形法，要求 180*180mm，300*300mm，两个尺寸中的一种（直接测吸波效率的，测不了电磁参数）。
5，SPDR 接受块体样品，测试需要厚薄均匀，介电常数＞20，
尺寸具体如下（长宽/直径范围，厚度）：
1G：110-190mm，3mm
2.5G：60-120mm，3mm
3G：50-120mm，3mm
5G：50-100mm，1.6mm
10G：30-100mm，1mm
15G：20-100mm，0.5mm
20G：20-40mm，0.5mm
28G：20-40mm，0.5mm
39G：20-40mm，0.5mm
6，准光腔：测试需要厚薄均匀，介电常数＞20，长＞40mm,宽＞40mm，厚度＜1mm
7，导电性太好的样品建议测试屏蔽效能，测试电磁参数可能会有异常，请慎重选择！
1. 薄膜样品是否可以测试？
根据频率确定测试方法，但是鉴于薄膜样品的情况，一般适合用波导法测试，厚度要求不是很严格，需要自己测量好薄膜的厚度。
2. 粉末测试时，和石蜡的掺杂比怎么确定？
这个最好根据自己的样品成分，参考文献来确认。不同样品合适的掺杂比例不同。一般测试时，也很难做到一个掺杂比例就可以得到比较好的测试结果，可能需要根据一个比例的测试结果，来调整掺杂比例，以获取更优的测试结果。但是一般样品的比例太高的话，不一定能制成同轴环，所以可能制样不成功，无法测试。
3. 为什么有的介电常数是负值？
一般可能是因为试样的浓度太高了（即和石蜡掺杂时，样品的比例太高），基本上快成导体了，已经形成导电通道了，介电数据异常了，不过可以看S参数计算屏蔽效能。这时候材料就只有屏蔽效果了，没有吸波性能了，和金属板差不多了，超过预设阈值了，有导电通道了，不适合这个仪器测试范围了。这种情况，一般建议调整降低样品的比例。
